薄膜/偏光片品质不用愁,透过式尺寸测量仪帮大忙(基恩士)

发布时间:2024-8-30 12:03:23|来源: 基恩士/KEYENCE

光幕透过式尺寸测量仪×翘曲检测

偏光片是由上下TAC以及PVA进行贴合后制成的。但是由于TAC的吸水性,热收缩性,拉伸性以及厚度差异,会导致偏光片干燥后整体翘曲不良。由于偏光片的尺寸种类丰富,翘曲位置不确定,传统尺寸测量工具无法准确检测翘曲程度,而人工检测无法做到全检,并且耗费人力。

今天为大家推荐LS系列的光幕透过式尺寸测量仪对偏光片翘曲的检测。

除了偏光片,胶片、薄膜等裁切后易发生卷曲的材料均可使用LS-9000系列进行卷曲度的检测。

薄膜/胶片测量--透过式尺寸测量仪轻松搞定

轧辊的缝隙对薄膜材料的厚度影响较大。以往作业者使用厚薄规或千分尺调整缝隙。使用厚薄规时必须停止生产线,而使用 千分尺则需要采用间接测量法,因不了解实际缝隙,需耗费时间进行调整。LS-9000系列测量仪采用非接触方式,即使在生产线运行中仍可始终进行测量,因此可有效缩短调整时间并提高品质。

另外,在薄膜生产过程中,如果宽度不固定或薄膜出现弯曲,则不仅会变为不良品,而且还会在之后的卷取工序中出现卷乱现象。

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